Photonic‑Lattice株式会社（フォトニックラティス，日本）

定位：二维双折射/残余应力无损面测量设备厂商，核心技术自研光子晶体偏振成像传感器，几秒完成整片样品应力云图，半导体、光学、显示行业使用，对标日本三鹰光器Mitaka。

原理：利用偏振光，非接触无损，输出相位差（位相差nm）、光轴角度、换算应力MPa，得到样品全域应力分布图像。

四大产品线

一、WPA系列（大位相差，高应力样品）

三波长测量（523/543/575nm），量程0‑3500nm，适合树脂、厚塑胶、高应力工件。

1. WPA‑200：标准台式，实验室通用机型

2. WPA‑200‑L：大载台，大尺寸基板、光学膜

3. WPA‑200‑XL：超大台面，最大约500mm样品

4. WPA‑300 / WPA‑300‑L：新一代，传感器分辨率提升5倍，捕捉极微小应力变化，工业质控主力。

✅适用：COP树脂、注塑件、厚光学树脂、导光板、大尺寸透明部件。

二、PA系列（低相位差，超高精度）

单波长520nm，量程0‑130nm，500万像素，针对低应力精密基材。

1. PA‑300：台式，玻璃、晶圆、蓝宝石、碳化硅衬底

2. PA‑micro：显微镜搭载微区测量，测芯片局部、微小光学元件，观察微米级区域应力。

3. PA‑300‑NIR：近红外版本，可见光不透、红外透光材料。

✅适用：半导体晶圆、石英、光掩模板、蓝宝石、SiC、车载盖板玻璃。

三、KAMAKIRI 在线产线机型

在线连续检测设备，用于产线流水线，薄膜走带实时扫描，不只是实验室台式机。

• KAMAKIRI‑X‑Stage：离线大样品台