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OTSUKA大塚电子 测量仪器 MCPD-9800
OTSUKA大塚电子 测量仪器 MCPD-9800OTSUKA大塚电子 测量仪器 MCPD-9800特长根据用途的各种检测器的阵容以最高档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。可配合客户的需求与测量用途，选择最适合的检测器。测量项目与所对应的检测器◎处…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 LCF series
OTSUKA大塚电子 测量仪器 LCF seriesOTSUKA大塚电子 测量仪器 LCF series产品规格型号LCF series样品尺寸50mm x 50mm ～*检出器分光光度计 ( MCPD检出器 )，PMT （option）图像处理CCD相机及monitor自动对焦、结合自动绘画素机构Stage及测量部支架X-Y-Zstage自动及…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-5700
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-5700OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-5700产品信息特殊长度可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法LCDITO / Glass, PI / OC…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-3700
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-3700OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-3700产品信息特殊长度可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。 用法LCDITO / Glass, PI / OC…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS series
OTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS seriesOTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS series仕 样型号RETS series样品尺寸20mm x 20mm ～* cell gap测量范围0.1μm ～数10μmcell gap重复性0.005μm检出器多通道分光光度计测量波长范围400nm ～ 800nm光学系透过用偏光子unit偏光光…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300
OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300OTSUKA大塚电子 测量仪器 GS-300特点规格自动Mapping系统式样表名称自动Mapping系统Load Port对应膜厚仪型式--GS-300 series样品台方式X-Y样品台R-θ样品台光学系测量探头 CCD相机同轴显微测量头 IR相机最大晶圆尺寸150mm以下300mm以…
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H3
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H3OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H3
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H2
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H2OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H2
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H1
OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H1OTSUKA大塚电子 测量仪器 OPTM-H1
2026-04-08 -
OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3
OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3OTSUKA大塚电子 测量仪器 SF-3规格式样SF-3膜厚测量范围0.1 μm ~ 1600 μm※1膜厚精度0.1% 以下重复精度0.001% 以下测量时间10msec 以下测量光源半导体光源测量口径φ27μm※2WD3 mm ~ 200 mm测量时间10msec 以下
2026-04-08