SANKO三高 膜厚仪 SNFe-0.6SANKO三高 膜厚仪 SNFe-0.6型号SNFe-0.6SNFe-5SNFe-8测定方式涡电流式测定范围0~600微米0~5.00毫米0~8.00毫米表示分解能1μm:0~600μm切换后0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm1微米:0~999微米0.01毫米: 1~5毫米1微米:0~999微…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SNFe-2.0SANKO三高 膜厚仪 SNFe-2.0型号SNFe-2.0/SNFe-2.0L测定方式涡电流式测定范围0~2.00毫米表示分解能1μm : 0〜999μm 0.01mm: 1.00〜2.00mm切替により0.1μm : 0〜400μm、0.5μm : 400〜500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0〜100μm …
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-20SANKO三高 膜厚仪 SFe-20型号SFe-10SFe-20测定方式电磁感应式测定范围0~10毫米0~20毫米表示分解能1微米:0~999微米0.01毫米:1~10毫米1微米:0~999微米0.01毫米:1~5毫米0.1毫米:5~20毫米测量精度(垂直于光滑表面测量)0~3mm:(5μm+…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-10SANKO三高 膜厚仪 SFe-10型号SFe-10SFe-20测定方式电磁感应式测定范围0~10毫米0~20毫米表示分解能1微米:0~999微米0.01毫米:1~10毫米1微米:0~999微米0.01毫米:1~5毫米0.1毫米:5~20毫米测量精度(垂直于光滑表面测量)0~3mm:(5μm+…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6PenSANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6Pen型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm:0~600μm切换后0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0~100μm:1μm或指示值的2%以…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LNASANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LNA型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm:0~600μm切换后0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0~100μm:1μm或指示值的2%以…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LSANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6L型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm:0~600μm切换后0.1μm:0~400μm0.5μm:400~500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0~100μm:1μm或指示值的2%以内1…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5LwASANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5LwASANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性,可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体,连接铁素体用(电磁式)或非铁金属素地用(涡流式)。微小片等的测量适用高稳定性探针等,根…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性,可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体,连接铁素体用(电磁式)或非铁金属素地用(涡流式)。微小片等的测量适用高稳定性探针等,根据用途…
2026-04-03SANKO三高 膜厚仪 SFN-325SANKO三高 膜厚仪 SFN-325SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性,可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体,连接铁素体用(电磁式)或非铁金属素地用(涡流式)。微小片等的测量适用高稳定性探针等,根据用途…
2026-04-03