-
SANKO三高 膜厚仪 SFe-10
SANKO三高 膜厚仪 SFe-10SANKO三高 膜厚仪 SFe-10型号SFe-10SFe-20测定方式电磁感应式测定范围0～10毫米0～20毫米表示分解能1微米：0～999微米0.01毫米：1～10毫米1微米：0～999微米0.01毫米：1～5毫米0.1毫米：5～20毫米测量精度(垂直于光滑表面测量)0～3mm：(5μm＋…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6Pen
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6PenSANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6Pen型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm：0～600μm切换后0.1μm：0～400μm0.5μm：400～500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0～100μm：１μm或指示值的2％以…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LNA
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LNASANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LNA型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm：0～600μm切换后0.1μm：0～400μm0.5μm：400～500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0～100μm：１μm或指示值的2％以…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6L
SANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6LSANKO三高 膜厚仪 SFe-0.6L型号SFe-0.6LSFe-0.6LNASFe-0.6Pen测定方式电磁感应式测定范围0〜600微米表示分解能1μm：0～600μm切换后0.1μm：0～400μm0.5μm：400～500μm测量精度(垂直于光滑表面测量)0～100μm：１μm或指示值的2％以内1…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5LwA
SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5LwASANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5LwASANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。微小片等的测量适用高稳定性探针等，根…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5
SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5SANKO三高 膜厚仪 SFe-2.5SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。微小片等的测量适用高稳定性探针等，根据用途…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SFN-325
SANKO三高 膜厚仪 SFN-325SANKO三高 膜厚仪 SFN-325SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。微小片等的测量适用高稳定性探针等，根据用途…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SWT NEO
SANKO三高 膜厚仪 SWT NEOSANKO三高 膜厚仪 SWT NEOSANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ特 长由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。微小片等的测量适用高稳定性探针等，根据用途…
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 SL-120C
SANKO三高 膜厚仪 SL-120CSANKO三高 膜厚仪 SL-120CSANKO山高 Pro-W电磁模拟涂层厚度计测量范围宽，三级刻度，双电极型特征这款三段式刻度尺只需一台设备即可测量从薄到厚的各种薄膜厚度。它甚至可以测量厚度达 15 毫米的薄膜。目的涂装/衬里/重型防腐蚀保护一般的 …
2026-04-03 -
SANKO三高 膜厚仪 Pro-S
SANKO三高 膜厚仪 Pro-SSANKO三高 膜厚仪 Pro-SSANKO山高 Pro-S 电磁模拟涂层厚度计用于现场涂装和衬里（单杆型）特征传统的模拟式测厚仪能够直观地读取测量厚度。作为一种高性能的现场用薄膜测厚仪，它广泛应用于政府机关、检测机构和企业等场所。紧凑的机身尺寸进…
2026-04-03