AEMIC株式会社 电容检测计 AE-365E
AEMIC株式会社 电容检测计 AE-365E
超高速：1msec.【TYP】（测量时的时间）
通过2pF/20pF量程５Ｖ测定，大幅提升微小容量的稳定度
通过测量值异常得知2端子(4端子)测量时探测头接触不良的情况
４端子接触检测：可选择 测定后/OFF
测量频率：1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)
可在串联等效电路、并联等效电路之间切换
定电压测量（适用部分量程）
可进行tanδ测定（2pF量程不适用）
３1/2位数(1999)数字显示、内置比较器功能可HI/GO/LO输出
RS-232C接口、打印机输出（适合Centronics的标准配备）（GP-IB为选购）
间歇性增加测量电流以减轻量探测头接触磨损[120µF/1.2mF量程]
即使在检测中也可打印测定值、统计值、日期、和时间
测量范围及基本精准度（D＜0.1 周围温度23℃±5℃）
| 量程 | 测量范围 | 最小分辨率 | 精确度 | 测量电压 | |
|---|---|---|---|---|---|
| 2pF | 0.000pF～1.999pF | 0.001pF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V±5％ [rms] | 1kHz,5V±5V％ [rms] |
| 20pF | 0.00pF～19.99pF | 0.01pF | ±0.25% of rdg±3digit×α 以内 | ||
| 200pF | 0.0pF～199.9pF | 0.1pF | ±0.2% of rdg±2digit×α 以内 | —- | |
| 2nF | 0.000nF～1.999nF | 0.001nF | ±0.2% of rdg±2digit 以内 | —- | |
| 20nF | 0.00nF～19.99nF | 0.01nF | —- | ||
| 200nF | 0.0nF～199.9nF | 0.1nF | —- | ||
| 2μF | 0.000μF～1.999μF | 0.001μF | 120Hz、0.5V±5％ [rms] | ||
| 20μF | 0.00μF～19.99μF | 0.01μF | ±0.3% of rdg±3digit×α 以内 | ||
| 120μF | 0.0μF～119.9μF | 0.1μF | ±1.0% of rdg±5digit×α 以内 | 1kHz,1V+5％～-15％ [rms] | —- |
| 200μF | 0.0μF～199.9μF | 0.1μF | ±0.5% of rdg±3digit×α 以内 | —- | 120Hz、0.5V±5％ [rms] |
| 1.2mF | 0.000mF～1.199mF | 0.001mF | ±1.5% of rdg±5digit×α 以内 | —- | 120Hz、0.5V+5％～5％～-25％ [rms] |
※0.1＜D＜1的情况下、在上记精确度上加上25D/100(%)。 α：FAST時2(2pF量程/1 V 時 α=10) SLOW時1(2pF量程/1 V 時 α=5)
| 测量方式 | 3/5端子测量方式[可选择不同量程] |
|---|---|
| 测量频率 | 120Hz/1kHz±0.1%、正弦波 |
| 測量讯號输出阻抗 | 约1Ω |
| 寄生电容修正范围 | 约30pF |
| 满刻度及零度系数 | ±100ppm/℃以内 |
| 测量时间 | 【空转周期】FAST：约1～5次/秒 SLOW：FAST×N(N:平均值设定次数) 【测量中讯号[FAST]】1msec.[最快时] |
| 比较器设定范围 | Capacitance：HI/LO和1999[120µF/1.2mF 量程HI/LO与1１99] tanδ：99.9% |
| 周围使用环境 | 温度：0℃～+50℃、 湿度：85%以下 |
| 所需电源 | AC85V～265V、50～60Hz、约50VA |
| 外形尺寸 | 333(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡胶部分。） |
| 重量 | 約4kg |
| AE-365E本体 | [RS-232C标准配备] |
|---|---|
| GP-IB 选购 | [若选购GP-IB则无法搭载RS-232C] |