SANKO三高 膜厚仪 SWT-7200Ⅳ
SANKO三高 膜厚仪 SWT-7200Ⅳ
SANKO山高 电磁/涡流涂层测厚仪SWT-7200Ⅳ
特别功能
可以选择合适的探头以满足最佳测量应用需求。
LCD屏幕上显示操作步骤的指导信息。
大容量测量存储器，可存储 20,000 个测量点
只需调用已注册的校准程序即可进行测量。
内置高/低限值设置方法和统计功能
具备自动关机、USB数据传输和倾斜支架功能。
具备将单位转换为“mil”的功能。
应用程序
●涂层/衬里/电镀
●绝缘薄膜，例如阳极氧化涂层（ALMITE）
范围
根据可选探针而定
展示
图形液晶显示屏（数据、信息）、倒车灯
校准
2点校准类型
校准曲线
10
数据存储
20,000
数据传输
USB
电源
干电池（LR6 1.5V）×2，自动关机，
连续工作时间：
25小时。
连续工作时间：
25小时。
温度
0～40℃（无冷凝）
方面
72（宽）× 30（高）× 156（深）毫米
重量
200克
配件
干电池、便携箱、手带、
检验合格证、交流适配器、USB 数据线、
光盘（使用说明书、USB 驱动程序等）
检验合格证、交流适配器、USB 数据线、
光盘（使用说明书、USB 驱动程序等）
选项
用于铁基探针（Fe） 用于非铁基探针（NFe）
其他的
※SWT-7000 III 系列已改款为 7000 IV 系列。
※SWT-7000III 系列和 7000IV 系列探头不兼容。
※SWT-7000III 系列和 7000IV 系列探头不兼容。