SANKO三高 膜厚仪 SM-Pen
SANKO三高 膜厚仪 SM-Pen
SANKO山高 SM-Pen 电磁模拟薄膜厚度计
笔式探头可用于测量小型零件（可定制）。
特征
这种笔式探针的尖端装有超细磁极，
可以测量微小零件和狭窄空间。
规格
测量范围
0 至 300 微米 0 至 5 毫米（双线标尺）
测量精度
在均匀表面上精度为±2μm，或为所示值的±5%。
电源
6节AAA电池（1.5V）
工作温度
0 至 40°C（无冷凝）
飞机尺寸
105（宽）× 48（高）× 165（深）毫米
重量
500克
配件
标准厚度表盘、表盘盖、收纳盒
探测
笔型 φ11×130mm，CVD磁极：φ2.6×4.5mm