SANKO三高  膜厚仪  SAMAC-F

SANKO三高  膜厚仪  SAMAC-F



SANKO山高   电磁/涡流涂层测厚仪SAMAC-F（英文版本）

特别功能

小型涂层测厚仪，内置探头单元

通过操作键即可轻松设置零点/标准调节

大尺寸液晶显示屏带背光，数值清晰易读。

应用程序

●涂层、衬里、电镀

方法
电磁
范围
0～2.5毫米
展示
图形液晶显示屏（数据、信息）、倒车灯
解决
1μm：0～999μm
切换至
0.1μm：0～400μm、
0.5μm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.50mm
精度（在平面上垂直测试）
0～100μm：±1μm 或读数的±2%；
101μm～2.5mm：读数的±2%。
电源
干电池（LR03 x 2），连续工作时间：25 小时
温度
0～40℃（无冷凝）
方面
63（宽）× 84（高）× 30（深）毫米
重量
约125克
配件
厚度标准件、零标尺、便携箱
探测
单点接触恒压式，十字V形切口，测量部分：φ28mm，探针部分：φ10mm
附加功能
测量模式切换（保持/不间断）
自动关机备用
指示灯
显示分辨率切换