SANKO三高膜厚仪 SAMAC-FN

SANKO山高 SWT系列专用探头

可互换探头。测量方法简便，按键布局简单。

特别功能

采用自动选择基板金属的测量

可以在黑暗环境中用背光进行测量。

FN型用于简单功能，Pro型用于高级功能

应用程序

●涂层/衬里/电镀

●阳极氧化涂层/绝缘膜

方法

双重（电磁/涡流）

范围

0～2.5（Fe）/ 2.0mm（NFe）

展示

图形液晶显示屏（数据、信息）、倒车灯

解决

1μm：0～999μm（Fe/NFe衬底）
切换至
0.1μm：0～400μm（Fe/NFe衬底）
0.5μm：400～500μm（Fe/NFe衬底）
0.01mm：1.00～2.50mm（Fe衬底）
0.01mm：1.00～2.00mm（NFe衬底）

精度（在平面上垂直测试）

0～100μm：±1μm（Fe/NFe 基底）或读数的±2%
101μm～2.5mm：±2%（Fe 基底）
101μm～2.0mm：±2%（NFe 基底）

电源

干电池（LR03 x 2），连续工作时间：25 小时

温度

0～40℃（无冷凝）

方面

63（宽）× 84（高）× 30（深）毫米

重量

约125克

配件

厚度标准件、零标尺、便携箱

探测

单点接触恒压式，十字V形切口，
测量部分：φ28mm，探针部分：φ10mm

附加功能

SANKO三高 膜厚仪 SAMAC-FN