SANKO三高 膜厚仪 SWT NEO
SANKO三高 膜厚仪 SWT NEO
SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ
特 长
由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。
根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。
微小片等的测量适用高稳定性探针等，根据用途和测量范围可以选择探针。
素地金属を自动で认识・判定 (SFN-325)。
探针 (另售) 电磁式涡流式两用
型号
SFN-325
接続器种
SWT-NEO系列 (NEO、NEOⅡ、NEOⅢ的各种型号)
测定方式
电磁式・涡电流式两用（素地自动判别）
测定范围
铁素地：0〜3.00㎜ 非铁金属素地：0〜2.50㎜
素材的判别
自动判别 和、手动切换
表示分解能
1μm：0～999μm
切换后
0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
0.01㎜：(铁素体1.00〜3.00㎜) (非铁素体1.00〜2.50㎜)
切换后
0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
0.01㎜：(铁素体1.00〜3.00㎜) (非铁素体1.00〜2.50㎜)
测量精度
(垂直于光滑表面测量)
(垂直于光滑表面测量)
0〜100㎛： ±1㎛
或指示值的±2％以内
(铁素体) 101㎛〜3.00㎜：±2％以内
(非铁素体) 101㎛〜2.50㎜：±2％以内
或指示值的±2％以内
(铁素体) 101㎛〜3.00㎜：±2％以内
(非铁素体) 101㎛〜2.50㎜：±2％以内
探针
1点定压接触式、V切割
φ15×50.9㎜、72g
φ15×50.9㎜、72g
选项
Ｖ型探针适配器
付属品
标准厚板、测试用零板 (铁用、非铁用)