SANKO三高  膜厚仪  SFe-2.5

SANKO三高  膜厚仪  SFe-2.5



SANKO山高SWT NEO系列专用探针选项L型プローブ

特 长

  • 由于探针的互换性，可以自由组合与主体进行连接。

  • 根据被测物体，连接铁素体用（电磁式）或非铁金属素地用（涡流式）。

  • 微小片等的测量适用高稳定性探针等，根据用途和测量范围可以选择探针。

  • 素地金属を自动で认识・判定 (SFN-325)。

探针 (另售) 电磁感应式

型号
SFe-2.5※1/2.5L
SFe-2.5LwA
测定方式
电磁感应式
测定范围
0～2.50毫米
表示分解能
1μm：0～999μm
切换后
0.1μm：0～400μm
0.5μm：400～500μm
0.01mm：1.00～2.50mm
测量精度
(垂直于光滑表面测量)
0～100μm：±1μm
或指示值的±2％以内
101μm～2.50mm：指示值的±2％以内
探针
1点定压接触式、V切割付
2.5：φ15×47mm
2.5L：18x22x67mm
1点定圧接触式
测量部分：约24×27×56㎜
全长：约550〜1,540㎜ (伸缩式)
选项
Ｖ型探针适配器※2/ ー
ー
付属品
标准厚板、测试用零板 (铁用)
标准厚板、测试用零板 (铁用)
收纳盒
测定对象
铁、钢等磁性金属表面的涂装，
衬里、溅射膜、电镀
（不包括电解镍电镀）等
铁、钢等磁性金属地面的涂装，
衬里等难以触及的高处，
远处的涂层厚度测量用