SANKO三高 膜厚仪 SNFe-2.0
SANKO三高 膜厚仪 SNFe-2.0
型号
SNFe-2.0/SNFe-2.0L
测定方式
涡电流式
测定范围
0~2.00毫米
表示分解能
1μm : 0〜999μm 0.01mm: 1.00〜2.00mm
切替により
0.1μm : 0〜400μm、
0.5μm : 400〜500μm
切替により
0.1μm : 0〜400μm、
0.5μm : 400〜500μm
测量精度
(垂直于光滑表面测量)
(垂直于光滑表面测量)
0〜100μm : ±1μm
或指示值的±2%以内
101μm〜2.00㎜:指示值的±2%以内
或指示值的±2%以内
101μm〜2.00㎜:指示值的±2%以内
探针
1点定压接触式、V切割付
2.0 : φ15×47mm
2.0L: 18×22×67mm
2.0 : φ15×47mm
2.0L: 18×22×67mm
V型探针适配器※/ ー
付属品
标准厚板、测试用零板 (非铁用)
测定对象
铝、铜等非磁性金属素地的绝缘性皮膜等
比较通用的测量物