SANKO三高 膜厚仪 UDM-1100
SANKO三高 膜厚仪 UDM-1100
SANKO山高 UDM-1100超声波测厚仪
特征
本测试仪通过使用已知硬度的铅笔芯在涂层上划痕，并测定划痕程度，来评估涂层的硬度和附着强度（阻力、塑性变形、内聚破坏等）。它
具有多种标准化测试条件的功能，使其易于使用和操作。
符合JIS K5600-5-4、ISO/DIS 15184和ASTM 3363标准。
涂层负载
750克
刮擦角度
45度
铅笔旋转（凹槽式）
120度 x 3
机器尺寸
120（宽）× 120（高）× 100（深）毫米
重量
约2公斤
配件
9H 至 6B 铅笔、1000 号砂纸、水平仪、平行工具、专用卷笔刀、收纳盒