SANKO三高  膜厚仪  EX-731

SANKO三高  膜厚仪  EX-731



SANKO山高  X射线荧光涂层测厚仪EX-731

 特征
在固定显示器屏幕上显示，直观地显示被测物体的镀层附着力分布。
Windows 软件用于增强报表创建功能
注意：使用本产品需向当地劳动标准监察局报备。 

规格

X射线源
油浸式紧凑型微焦点X射线管
靶材：钨
管电压：50 kV/可变管电流
辐照法
顶部垂直照明方法
探测器
比例计数器
可测量范围
原子序数 22-24：0.02 至约 20 μm；
原子序数 25-40：0.02 至约 30 μm；
原子序数 41-51：0.02 至约 70 μm；
原子序数 52-83：0.01 至约 10 μm
样本观测
CCD彩色相机
尺寸
240×220毫米（手动170×110毫米）
测量对象的最大高度
50毫米（手动80毫米，可选150毫米）
机器尺寸
600（宽）x 465（深）x 754（高）