OTSUKA大塚电子 测量仪器 Smart膜厚仪
OTSUKA大塚电子 测量仪器 Smart膜厚仪
产品信息
特点
● 可携带至现场的手持式
● 可测量0.1μm单位
● 具有形状的样品也可非破坏的测量
● 不论基材材质、可测量其镀膜
测量项目
膜厚测量范围 | 1μm～50μm |
测量重复性 | 0.01μm |
测量时间 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚仪与其他膜厚仪的比较
●与桌上型光学膜厚仪相比，Smart膜厚仪在“现场”以非破坏式直接量测样品，且可以量测特殊形状样品。
●与接触式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。
●与涡电流/电磁式膜厚仪相比，Smart膜厚仪不需要制作检量线，且可以量测非金属基材并且得到绝对值！
不需要量测经验，可快速得到精准的膜厚结果。