OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
规格
測定原理 | 小角光散射法 |
光源 | 半导体激光器 (波長785nm) |
检测器 | CMOS照相机 |
測定散乱角度 | 0.33°~45° |
散射图样 | Hv光散射、Vv光散射 |
光斑直径 | 約1mm |
动态范围 | 120db以上 (使用HDR功能時) |
測定時間 | 10msec~ ※ |
解析項目 | 球晶半径、相关距离 |
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000规格測定原理小角光散射法光源半导体激光器 (波長785nm)检测器CMOS照相机測定散乱角度0.33~45散射图样Hv光散射、Vv光散射光斑直径約1mm动态范围120db以上 (使用HDR功能時)測定時間10msec~ ※…
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
OTSUKA大塚电子 测量仪器 PP-1000
规格
測定原理 | 小角光散射法 |
光源 | 半导体激光器 (波長785nm) |
检测器 | CMOS照相机 |
測定散乱角度 | 0.33°~45° |
散射图样 | Hv光散射、Vv光散射 |
光斑直径 | 約1mm |
动态范围 | 120db以上 (使用HDR功能時) |
測定時間 | 10msec~ ※ |
解析項目 | 球晶半径、相关距离 |