OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-3700

OTSUKA大塚电子  测量仪器   FE-3700

OTSUKA大塚电子  测量仪器   FE-3700

产品信息

特殊长度

可以高速、高精度地测量各种玻璃基板上各种薄膜的膜厚和光学常数。除了支持包括下一代尺寸在内的大型玻璃基板外，它还支持 LCD、TFT 和有机 EL。

用法

LCD
ITO / Glass, PI / OC / Glass, CF / Glass, Resist / Glass

TFT
SiN / a-Si / 玻璃

有机EL
有机EL / ITO / 玻璃

PDP
介电层/玻璃