日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头

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日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头

日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头

日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头特征：探头兼容性允许与主机进行任何组合。根据被测物体的不同，可以连接铁基体（电磁型）或有色金属基体（涡流型）。可以根据应用和测量范围选择探头，例如适用于测量微观碎片的高稳定性探头。自动识别…

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日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头

日本SANKO山高 SFE-2.5 膜厚计探头

特征：

  • 探头兼容性允许与主机进行任何组合。

  • 根据被测物体的不同，可以连接铁基体（电磁型）或有色金属基体（涡流型）。

  • 可以根据应用和测量范围选择探头，例如适用于测量微观碎片的高稳定性探头。

  • 自动识别和判断贱金属 （SFN-325）。


型号名称
SFN-325 型
连接设备类型
SWT-NEO 系列 （NEO， NEOII.， NEOIII.）
测量方法
适用于电磁和涡流类型（自动碱基检测）
测量范围
黑色金属基板：0-3.00mm 有色金属基板：0-2.50mm
材料鉴定
自动检测和手动切换
显示分辨率
1μm： 0~999μm
0.1μm
： 0~400μm 0.5μm： 400~500μm
0.01mm： （1.00-3.00mm） （有色金属基板 1.00-2.50mm）
测量精度
（垂直于光滑表面测量）
0 至 100 μm：±1 μm
或读数
值的 ±2% 以内（铁基） 101 μm 至 3.00 mm：±2%
以内（有色金属基材） 101 μm 至 2.50 mm：±2% 以内
探针
1 点恒压接点型 带 V 型切割
φ15×50.9mm，72g
选择
V 型探头适配器
附属品
标准厚板、用于测试的零板（用于黑色金属和有色金属）