OTSUKA大塚电子分析仪器 nanoSAQLA

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OTSUKA大塚电子分析仪器 nanoSAQLAOTSUKA大塚电子分析仪器 nanoSAQLA特点● 1台便可实再5个样品的连续测量实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品可以改变每个样品的条件进行测量● 可以对应从稀薄到浓厚的样品● 标准测量时间1分的高度测量自…

OTSUKA大塚电子分析仪器 nanoSAQLA

特点

● 1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

● 可以对应从稀薄到浓厚的样品

● 标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置，实现约1分钟的高速测量

● 配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作，简单易懂的软件

● 因为每个样品槽都是独立的，没有接触污染的风险。

● 搭载温度梯度功能

测量范围（理论值）

● 粒径0.6nm～10μm

● 浓度范围 0.00001～40％

● 温度范围0～90℃^*

规格

型号	多检体纳米粒径测量系统
測量原理	动态光散射法（光子相关法）
光源	高功率半导体激光（660nm、70mW） *1
检出器	高感度APD
连续测量	最多5个样品
测量范围	0.6nm ～ 10μm
浓度范围	0.00001 ～ 40% *2
温度范围	0 ～ 90℃ （具备温度梯度功能） *3
样品容量	四面透光比色皿：1.2mL～、微量比色皿：20μL～
尺寸	W240 X D480 X H375 mm
电压	220V 50/60Hz、250VA
重量	约18 kg
软件	平均粒径解析（累积法解析）
	粒径分布解析
	（Marquardt法/Contin法/NNLS/Unimodal法）
	粒度分布重叠
	逆相关数残差Plot
	粒径监测
	粒径表示范围（0.1 ～ 106 nm）
	分子量计算机能
	21 CFR Part11对应*4
选配	微量样品池（20μL开始対应）、荧光滤光片

OTSUKA大塚电子 分析仪器 nanoSAQLA