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OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300规格规格类型薄膜型标准型测量波长范围300-800nm450-780nm测量膜厚范围（SiO 2换算）3nm-35μm10nm-35μm光斑直径φ3mm / φ1.2mm样本量φ2005（高）mm测量时间0.1-10s内电源AC100V 10% 300VA尺…
产品详情
Product Detail
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300
OTSUKA大塚电子 测量仪器 FE-300
规格
规格
| 类型 | 薄膜型 | 标准型 |
| 测量波长范围 | 300-800nm | 450-780nm |
| 测量膜厚范围 （SiO 2换算） | 3nm-35μm | 10nm-35μm |
| 光斑直径 | φ3mm / φ1.2mm | |
| 样本量 | φ200×5（高）mm | |
| 测量时间 | 0.1-10s内 | |
| 电源 | AC100V ± 10% 300VA | |
| 尺寸、重量 | 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米，24 公斤 | |
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