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OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线型
OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线型OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线型式样在线型离线型膜厚范围0.7~300μm*1测量宽度TD:500mm~最大10m x MD1mmTD:250mmxMD1mm测量间隔10ms ~设备尺寸81(W)x140(D)x343(H)mm459(H)x609(D)x927(H)mm重量4kg(仅测…
产品详情
Product Detail
OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线型
OTSUKA大塚电子 测量仪器 线扫描膜厚仪离线型
式样
| 在线型 | 离线型 | |
| 膜厚范围 | 0.7~300μm*1 | |
| 测量宽度 | TD:500mm~最大10m x MD1mm | TD:250mmxMD1mm |
| 测量间隔 | 10ms ~ | |
| 设备尺寸 | 81(W)x140(D)x343(H)mm | 459(H)x609(D)x927(H)mm |
| 重量 | 4kg(仅测量头) | 60kg |
| 最大功耗 | AC100V 10% 125VA | |