OTSUKA大塚电子测量仪器 RETS-100nx New

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OTSUKA大塚电子测量仪器 RETS-100nx NewOTSUKA大塚电子测量仪器 RETS-100nx New产品规格测量项目（薄膜、光学材料）相位差（波长分散）、慢轴、RTH*1、3次元折射率*1等测量项目（偏光片）吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等测量项目（液晶cell）c…

OTSUKA大塚电子测量仪器 RETS-100nx New

产品规格

测量项目（薄膜、光学材料）	相位差（波长分散）、慢轴、RTH^1、3次元折射率1等
测量项目（偏光片）	吸收轴、偏光度、消光比、各种色度、各种透过率等
测量项目（液晶cell）	cell gap、预倾角^*1 、扭曲角、配向角等
位相差测量范围	0～60,000nm
相位差重复性	3σ≦0.08nm（水晶波长板约600nm）
cell gap 测量范围	0～600μm（Δn=0.1时）
cell gap 重复性	3σ≦0.005μm（cell gap 约3μｍ、Δｎ＝0.1时）
轴检测重复性	3σ≦0.08°（水晶波长板约600nm）
测量波长范围	400～800nm（其他可选）
检测器	多通道光谱仪
测量径	φ2㎜(标准规格)
光源	100W　halogen lamp
数据处理部	个人计算机、显示器
样品台尺寸:标准	100㎜×100㎜（固定样品台）
option	·超高相位差测量 ·多层测量 ·轴角度补正功能 · 自动XY样品台·自动倾斜旋转样品台

OTSUKA大塚电子 测量仪器 RETS-100nx New