OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200

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OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200

OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200

OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200OTSUKA大塚电子 测量仪器 RE-200产品信息特 点● 可测从0nm开始的低（残留）相位差● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)（相当于世界最快速的0.1秒以下来处理）● 无驱动部，重复再现性高● 设置的测量项目少，测量简单● 测量波…

产品详情

Product Detail

OTSUKA大塚电子   测量仪器   RE-200

OTSUKA大塚电子   测量仪器   RE-200



产品信息

特 点

● 可测从0nm开始的低（残留）相位差
● 光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)
（相当于世界最快速的0.1秒以下来处理）
● 无驱动部，重复再现性高
● 设置的测量项目少，测量简单
● 测量波长除了550nm以外，还有各种波长
● Rth测量、全方位角测量
（需要option的自动旋转倾斜治具
● 通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）


   

测量项目

● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主轴方位角（θ[°]）
● 椭圆率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）


   

用　途

● 位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
● 树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）