OTSUKA大塚电子 测量仪器 QE-2100 3683C

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OTSUKA大塚电子   测量仪器   QE-2100  3683C

OTSUKA大塚电子 测量仪器 QE-2100 3683C

OTSUKA大塚电子 测量仪器 QE-2100 3683COTSUKA大塚电子 测量仪器 QE-2100 3683C规格型号3683C311C2585C3095C测量波长范围360-830nm360~1100nm250~850nm300-950nm像素分辨率1.0nm0.5nm1.6nm0.8nm1.4nm0.7nm1.4nm0.7nm受光素子ch数512ch1024ch512ch1024ch512ch10…

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Product Detail

OTSUKA大塚电子   测量仪器   QE-2100  3683C

OTSUKA大塚电子   测量仪器   QE-2100  3683C



规格

型号3683C311C2585C3095C
测量波长范围360-830nm360~1100nm250~850nm300-950nm
像素分辨率1.0nm0.5nm1.6nm0.8nm1.4nm0.7nm1.4nm0.7nm
受光素子ch数512ch1024ch512ch1024ch512ch1024ch512ch1024ch
素子电子冷却型 CCD 图像传感器
AD分辨率16bit
分光器光学配置平场型 F=3、f=85.8mm
激发光源
光源150W 氙灯
激发波长250~800nm
带宽FWHM 5nm / Slit 0.6mm
防止样品光劣化自动快门
激发波长控制自动控制
积分球
材质Spectron
尺寸Ф150mm半球(HalfMoon)
样品架
粉体测量用SUS304制、无石英盖板
溶液测量用(常温)石英制溶液样品池(开放型)
UTT
供电压AC100~120V/AC 200~230V
软件

量子効率(量子产率)测量
量子効率(量子产率)的激发波长依存特性
反射光谱测量
PL激发光谱
显示EEM(Excitation Emission Matrix)
再次激发校准
发光光谱测量
透过·吸收光谱测量
色演算(色度、色温度、演色性等)

选项

自动进样器

样品架 (
1) 用于粉末测量 SUS304 材质,带石英盖 (
2) 用于薄膜测量 用于透射测量的样品架