日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪

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日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪

日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪

日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪PA-300-NIR在近红外波段使用850 nm波段测量波长，即使是肉眼不透明的材料，也能以500万像素分辨率高速…

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Product Detail

日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪

日本Photonic-Lattice株式会社 PA-300-NIR 近红外二维全场低相位差双折射应力测量仪

PA-300-NIR在近红外波段使用850 nm波段测量波长，即使是肉眼不透明的材料，也能以500万像素分辨率高速测量双折射/相位差的分布。该设备针对测量范围为0至213纳米的低相位。
适用于测量使近红外波长透明的目标，如黄烷化物透镜。

PA‑300‑NIR 是日本 Photonic‑Lattice 一体式台式近红外双折射应力测量系统，专利光子晶体偏振阵列，无旋转偏振片机械结构，快照式二维面成像，单次约 3 秒输出近红外波段下相位差、光轴方位角二维分布云图。


WPA-200-NIR使用近红外波段的三个波长进行测量波长，并且可以测量透射近红外波段的测量目标的双折射率。
适合测量使近红外波长透明的目标，如激光雷达汽车部件等。

PA-300-NIR 规格

  • 测量

输出

  • 相位偏移/延迟（nm），轴向（°） 应力等效（Mpa）*作为“数据处理”选项的一部分

分布范围

  • 0~213纳米

重复性

  • σ<1.0海里


  • 传感器部件

结局

  • 2056 × 2464（约5M）像素

工作波长

  • 850纳米


  • 硬件

尺寸 （宽 x 深 x 高）

  • 270 × 337 × 最大 631mm

物镜尺寸

  • 大约30×36mm~约100×133mm（标准镜头） 大约5.5×6.6mm~大约25×30mm（变焦镜头）*选项

重量

  • 大约12公斤


  • 其他

界面

  • GigE（摄像机信号）

电源

  • AC100~240V（50/60Hz） / ~6.0A

软件

  • PA-View（公共广播视角）

配件

  • 台式电脑，标准镜头，用户手册


  • 选项

变焦镜头

  • 是的

数据处理功能

  • 是的

视场（FOV）校正函数

  • 是的

透镜分析函数

  • 是的

实时分析函数

  • 是的

遥控功能

  • 是的

色散模

  • 不

WPA高滞速

  • 不

镜头测量阶段

  • 是的

宾夕法尼亚/WPA遮阳罩

  • 是的

光弹性测量

  • 不