Photonic株式会社  WPA-200-NIR-MT 模块化近红外二维全场大相位差双折射应力测量仪

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Photonic株式会社  WPA-200-NIR-MT 模块化近红外二维全场大相位差双折射应力测量仪

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Photonic株式会社  WPA-200-NIR-MT 模块化近红外二维全场大相位差双折射应力测量仪

Photonic株式会社  WPA-200-NIR-MT 模块化近红外二维全场大相位差双折射应力测量仪

Photonic‑Lattice(日本株式会社フォトニックラティス)WPA‑200‑NIR‑MT 模块化近红外二维全场大相位差双折射应力测量仪；0‑3500nm，近红外三波长810/850/880nm，11万像素光子晶体偏振阵列；模块化机头可嵌入产线；输出相位差、光轴方位，选配应力换算；WPA‑View软件；用于LiDAR红外树脂部件残余应力在线检测；AC100‑240V供电。

产品特点

  1. MT 模块化分离机头，机头与底座可拆分，兼顾实验室离线检测与自动化产线在线集成；机头仅 4.3kg，安装负载小，产线改造方便。

  2. 近红外三波长测量，三波长算法消除大相位差测量歧义，量程 0‑3500nm，适配可见光不透明、近红外可透射的 LiDAR 塑胶窗口、红外注塑镜片等高双折射红外树脂样品。

  3. 光子晶体偏振阵列无机械旋转部件，抗振动干扰，快照成像，3 秒输出完整二维 mapping 云图，适配工厂振动环境。

  4. WPA‑View 软件支持点、线、面统计，热力图可视化，导出测试报告；具备产线自动判定功能，按阈值输出 OK/NG，支持日志记录。


项目WPA‑200‑NIR‑MT 规格
测量原理光子晶体偏振阵列，近红外三波长：810nm / 850nm / 880nm
相位差（光程差）量程0‑3500nm（石英基准）
输出参数相位差 nm、光轴方位角 °；选配：等效应力 MPa
传感器像素384×288，约11 万像素
重复精度相位差 σ＜1.0nm；光轴方位 σ＜0.1°
测量时间约 3 秒，支持实时解析选配
标准镜头视野27×36mm ～100×133mm
变焦镜头选件支持，视野 3.0×4.0mm～14.2×19.0mm
接口GigE 千兆网口、远程外部控制接口
供电AC100‑240V 50/60Hz，5.0A
机头单元尺寸 (W×D×H)160 × 190 × 316mm
机头重量约4.3kg（轻量化，便于设备嵌入）
配套软件WPA‑View 分析软件
标配附件测量机头、笔记本电脑、标准镜头、操作手册