Photonic株式会社 WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统

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Photonic株式会社 WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统

Photonic株式会社 WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统

Photonic株式会社 WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统Photonic株式会社 WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统WPA‑KAMAKIRI 是日本 Photonic‑Lattice 大视场二维双折射测量系统，搭载光子晶体偏振阵列，无旋转偏振…

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Product Detail

Photonic株式会社  WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统

Photonic株式会社  WPA-KAMAKIRI 大视野三波长二维全场大相位差双折射应力测量系统

WPA‑KAMAKIRI 是日本 Photonic‑Lattice 大视场二维双折射测量系统，搭载光子晶体偏振阵列，无旋转偏振机构，快照式二维面成像，单次约 3 秒输出相位差、光轴方位角二维分布云图。 采用三波长演算算法，解决高相位差测量歧义问题；专为大尺寸样品设计，测量视野可调，最大 320×255 mm，适配大尺寸 PET、TAC、COP 光学薄膜、大尺寸树脂板材、大型注塑光学件；可选购高相位差扩展模块，量程最高到 10000 nm；配套 WPA‑View 软件，选配模块换算等效应力 MPa；本机为一体式台式离线设备，不支持直接拆分机头，产线在线版本为 KAMAKIRI‑INLINE。


如果需要高空间分辨率的评估，该产品非常有效。PET薄膜和树脂成型产品通常相位差超过1000纳米，这使得光学系统在双折射分布的定量评估中变得复杂。

通过WPA系列，可以通过选择三种不同波长并比较计算每个波长的相位差，测量约3000纳米的相位差。此外，还提供高相差选项，以满足测量约10,000纳米超高相差的需求。

规格

  • 测量

输出

  • 相位偏移/延迟（nm），轴向（°） 应力等效（Mpa）*作为“数据处理”选项的一部分

分布范围

  • 0-3500海里 （在测量纯石英的情况下）

重复性

  • σ<1.0海里


  • 传感器部件

结局

  • 852×680（约0.58M）像素

工作波长

  • 523纳米，543纳米，575纳米


  • 硬件

尺寸 （宽 x 深 x 高）

  • 430×487×最大1155毫米

视野

  • 约97×77毫米~约320×255毫米

重量

  • 大约23公斤


  • 其他

界面

  • 专用 PCI Express 接口

电源

  • AC100~240V 50/60Hz，77W 交流适配器

软件

  • WPA视图

包含的物品

  • 台式电脑，物镜，用户手册


  • 选项

变焦镜头

  • 不

视场（FOV）修正

  • 是的

透镜分析函数

  • 是的

镜头测量阶段

  • 是的

实时分析

  • 是的

色散模

  • 是的

高延迟测量选项

  • 是的

遥控器

  • 是的