CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000 测量设备

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CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000  测量设备

CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000 测量设备

CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000 测量设备CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000 测量设备它是一种光谱薄膜厚度监测器,利用单色光监测沉积过程中基板光强的变化。 它也被用于我们自己的沉积设备,是一台富含沉积零件制造专业知识的薄膜厚度监测设备。广波长范围之前的型号…

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CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000  测量设备

CASAHI-SPECTRA朝日分光 OMD-1000  测量设备

它是一种光谱薄膜厚度监测器,利用单色光监测沉积过程中基板光强的变化。 它也被用于我们自己的沉积设备,是一台富含沉积零件制造专业知识的薄膜厚度监测设备。

广波长范围

之前的型号是基于滤波片的波长选择,而新产品则集成了我们经过验证的光谱仪,允许你选择任何波长。
胶片厚度变化的信号从电压输出传输到兼容个人电脑的数字输出,控制机构通过手动作指令控制到计算机。 此外,厚度计机身可通过输入/电波直接连接到计算机进行控制,使其成为一个非常紧凑的系统,无需像其他制造商那样使用控制器。

长处

  • 带光谱仪的紧凑设计

  • 提升抗噪能力,以实现可靠的薄膜厚度监测(静电放电测试耐电压±5kV)

  • 通过PC命令实现自动控制

  • 控制器内置于接收机体内,以实现高成本性能

它连接在沉积设备上,用于监测胶片厚度。
安装方式如右图所示。

型式OMD-1000
光谱仪类型切尔尼-特纳字体单色单色
波长范围保修范围:380~900nm
工作范围:350~1100nm
波长分辨率スリット0.5毫米:4.2纳米 [546纳米]
スリット1.0毫米:8.3纳米 [546纳米]
波长精度±1.0海里
最小波长馈源0.1nm
外部控制RS232C
外部输出端子DC0~2V(全比例)
采样区间100毫秒或更久
静电放电测试电压±5kV(实际作为8kV)
光源12V100W 卤素灯
光量安定性±0.1%/h 以下
输入电压AC100V 50/60Hz
允许输入电压AC85~132V
表视功率340VA或更低
使用环境温度:10~35°C
,湿度20~80%