德国OPTRIS Xi 400 LT 18°x14° MO 红外应用套件

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德国OPTRIS Xi 400 LT 18°x14° MO 红外应用套件

德国OPTRIS Xi 400 LT 18°x14° MO 红外应用套件

C德国OPTRIS Xi 400 LT 18x14 MO 红外应用套件Xi 400 红外热像仪系统配备了显微镜光学系统，专门用于印刷电路板分析和电气元件温度测量，分辨率为 382 x 288，经济实惠。该红外热像仪将长波红外热像仪与精确对焦的显微镜载物台和专为小型目标优化设计的德国光学元件相结合…

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德国OPTRIS Xi 400 LT 18°x14° MO 红外应用套件

Xi 400 红外热像仪系统配备了显微镜光学系统，专门用于印刷电路板分析和电气元件温度测量，分辨率为 382 x 288，经济实惠。该红外热像仪将长波红外热像仪与精确对焦的显微镜载物台和专为小型目标优化设计的德国光学元件相结合，可测量最小的细节。在电子工业中，小型设备十分常见，而红外热像仪系统通常缺乏针对此类目标的光学系统。IFOV 和 MFOV 等规格对于精确测量温度至关重要。高达 80 Hz 的高帧频和无缝计算机连接使其适用于监控快速热制造过程。

  • 工业 USB 红外热像仪

  • 体积小，坚固耐用，具有电动聚焦功能

  • 超强的距离与测点尺寸比，高达 390:1

  • 光学分辨率 382 x 288 px

  • 帧频高达 80 Hz，可监控快速过程

  • 测点尺寸或瞬时视场 (IFOV) 为 80 µm

  • 可对小至 240 微米的元件进行精确的温度测量

型号Xi 400 LT 18°x14° MO
探测器
光学分辨率382×288 像素
像素间距17 微米
探测器非制冷红外探测器
光谱范围低温测量: 8 – 14 µm
光学滤波器无
帧频80 Hz / 27 Hz
光学
视场角18°x14°
焦距[毫米］20
F 值1
光学分辨率375:1
到目标的最小距离90 – 110 mm
可互换光学镜组No
测量
目标测量范围–20 °C … 100 °C
0 °C … 250 °C
(20) 150 °C … 900 °C **1)
精度 *1)±2 °C or ±2 %, whichever is greater
热灵敏度 (NETD) *2)80 mK
可探测的最小光斑尺寸 IFOV：1 像素80 µm
可测量的最小光斑尺寸 MFOV240 µm
测量视场 (MFOV)3×3 像素
预热时间10 分钟
发射率/透射率/反射率可调： 0.100…1.100
接口
接口USB
可选： USB 千兆以太网（PoE）接口
支持的协议USB 2.0
兼容软件PIXConnect, ConnectSDK, EasyAPI, DirectSDK
模拟输入/输出
直接输出/输入1x 模拟输出 (0/4-20 mA)
1x 输入（模拟或数字）；光隔离
可选工业过程接口 (PIF)2x 0 – 10 V 输入，数字输入（最大 24 V），
3x 0/4 – 20 mA 输出，3x 继电器（0 – 30 V/ 400 mA），故障安全继电器
电缆长度USB：1 米（3.3 英尺）（标准），3 米（9.8 英尺），5 米（16.4 英尺），10 米（32.8 英尺）
图像处理
配置通过 PIXConnect
操作计算机支持
功能感兴趣区域测量、线扫描、事件采集器、合并、报警、比较功能、温度-时间图、温度曲线、记录和播放、触发 …
常规
尺寸直径 36 mm x 100 mm，螺纹： M30x1
外壳材料不锈钢
重量216 – 220 克，取决于镜头（不含安装支架）
三脚架1/4-20 UNC
焦距电动
原产国德国
环境与认证
工作温度范围0…50°C
存储温度范围-40…70 °C
相对湿度10 – 95 %，无冷凝
防护等级IP67, NEMA-4
电磁兼容性2014/30/EU
冲击IEC 60068-2-27 (25 G 和 50 G)
冲击IEC 60068-2-6（正弦波）
IEC 60068-2-64（宽带噪声）
标准CE, UKCA, RoHS
电源
电源USB
耗电量最大功率 2.5 W
配件
显微镜支架可选
防静电垫可选
尺寸300 x 220 x 150 毫米


零件编号OPTXI40LTF20CFT090
附加编号1) 准确性说明从 150 °C 开始生效